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影響回路電阻測(cè)試儀電阻測(cè)試的5大原因分析

瀏覽次數(shù):1006發(fā)布日期:2014-05-06
  影響回路電阻測(cè)試儀電阻測(cè)試的5大原因分析
  回路電阻測(cè)試儀的變壓器大部分是有固定的鐵心,其上繞有一次與二次的線圈?;阼F材的高導(dǎo)磁性,大部份磁通量局限在鐵心里,因此,兩組線圈藉此可以獲得相當(dāng)高程度之磁耦合。在一些變壓器中,線圈與鐵心二者間緊密地結(jié)合,其一次與二次電壓的比值幾乎與二者之線圈匝數(shù)比相同。影響回路電阻測(cè)試儀廠家提醒您電阻測(cè)試的因素有以下5種:
  一、環(huán)境溫濕度:一般材料的電阻值隨環(huán)境溫濕度的升高而減小。相對(duì)而言,表面電阻(率)對(duì)環(huán)境濕度比較敏感,而體電阻(率)則對(duì)溫度較為敏感。濕度增加,表面泄漏增大,體電導(dǎo)電流也會(huì)增加。
  二、測(cè)試電壓:介質(zhì)材料的電阻(率)值一般不能在很寬的電壓范圍內(nèi)保持不變,即歐姆定律對(duì)此并不適用。導(dǎo)致材料電阻值變化的決定因素是測(cè)試時(shí)的電場(chǎng)強(qiáng)度,而不是測(cè)試電壓。
  三、測(cè)試時(shí)間:用一定的直流電壓對(duì)被測(cè)材料加壓時(shí),被測(cè)材料上的電流不是瞬時(shí)達(dá)到穩(wěn)定值的,而是有一衰減過程。在加壓的同時(shí),流過較大的充電電流,接著是比較長(zhǎng)時(shí)間緩慢減小的吸收電流,zui后達(dá)到比較平穩(wěn)的電導(dǎo)電流。
  四、測(cè)試設(shè)備的泄漏:在測(cè)試中,線路中絕緣電阻不高的連線,往往會(huì)不適當(dāng)?shù)嘏c被測(cè)試樣、取樣電阻等并聯(lián),對(duì)回路電阻測(cè)試儀測(cè)量結(jié)果可能帶來較大的影響。
  五、外界干擾:高絕緣材料加上直流電壓后,通過試樣的電流是很微小的,極易受到外界干擾的影響,造成較大的測(cè)試誤差。