電容和介質(zhì)損耗測量

　電容和介電損耗測量:

　　電容和介電損耗的測試目的測量介電損耗的目的是確定電氣設(shè)備的絕緣狀態(tài)。測量介電損耗因數(shù)是預(yù)防性試驗(yàn)中*的項(xiàng)目。由于電氣設(shè)備的介質(zhì)損耗因數(shù)過大，在交流電壓的作用下，設(shè)備絕緣會(huì)以熱的形式損失掉。產(chǎn)生的熱量會(huì)使用電設(shè)備的絕緣溫度升高，使絕緣老化，甚至引起絕緣熱擊穿。絕緣容量的降低直接反映為介電損耗因數(shù)的增加。進(jìn)一步分析絕緣劣化的原因，如：絕緣受潮、絕緣油污染、老化劣化等。因此，出廠試驗(yàn)時(shí)應(yīng)進(jìn)行介損試驗(yàn)，運(yùn)行中的電氣設(shè)備也應(yīng)進(jìn)行這種試驗(yàn)。在測量介電損耗時(shí)，也可以得到樣品的電容。電容的明顯變化反映了多個(gè)電容器中的一個(gè)或幾個(gè)短路或開路。

　　介電損耗測試原理:

　　介電損耗是絕緣材料在電場作用下，由于介電導(dǎo)率和介電極化的滯后效應(yīng)而引起的能量損耗。也叫介電損耗，簡稱介電損耗。

　　在交流電壓作用下，在介質(zhì)中流動(dòng)的電流相量與電壓相量之間的夾角為功率因數(shù)角（Φ），互補(bǔ)角（δ）稱為介質(zhì)損耗角。

　　介電損耗角正切δtg，又稱介電損耗因數(shù)，是指介電損耗角正切值，簡稱介電損耗角正切。

　　介電損耗因數(shù)（δtg)的測量在電氣設(shè)備的制造、絕緣材料的電性能評價(jià)、絕緣試驗(yàn)中是不可少的。因?yàn)闇y量絕緣介質(zhì)的δtg 值是判斷絕緣狀況的更靈敏的測試方法。在交流電壓的作用下，絕緣介質(zhì)不僅有電導(dǎo)損耗，還有極化損耗。

　　電纜、繞組、電流互感器、電壓互感器、變壓器套管，要在其上進(jìn)行介電損耗測試或耗散因數(shù)測試，首先要與系統(tǒng)隔離。在要測試絕緣的設(shè)備上施加一個(gè)頻率非常低的測試電壓。